離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。離子遷移測(cè)試儀是評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測(cè)試方法,將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中,并在相鄰的兩個(gè)絕緣網(wǎng)絡(luò)之間施加一定的直流電壓(偏置電壓),在長時(shí)間的測(cè)試條件下,檢測(cè)兩個(gè)網(wǎng)絡(luò)之間是否有絕緣失效。將測(cè)試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中,并在線路板上焊接電纜線,施加偏置電壓,然后每隔一段時(shí)間,將PCB從環(huán)境試驗(yàn)箱中取出,進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試,這是一種間斷式的測(cè)試方法。 有效的離子遷移測(cè)試,需要將測(cè)試樣品放置于高溫高濕的環(huán)境試驗(yàn)箱中,并在線路板上焊接電纜線,引出至環(huán)境試驗(yàn)箱外的有關(guān)測(cè)試設(shè)備上,在線路板上施加促進(jìn)離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試,同時(shí)能實(shí)時(shí)檢測(cè)測(cè)試樣品上的泄漏電流。